個別の審査の質についてのユーザー評価調査
User Satisfaction Survey on Examination Quality on Specific Applications

Questionnaires for "Quality of Patent Examination on Specific National Applications" and "Quality of the International Search and International Preliminary Examination on Specific PCT Applications" are available in English.

【1】調査の目的
本調査は、個別の審査の質について、ユーザーの方々からの評価、意見等を収集し、審査の質の現状を把握するためのデータとして活用するとともに、審査の質の改善に役立たせることを目的としています。
【2】情報の取扱い
ご提出いただいた回答は、【1】の目的のためにのみ使用し、回答者欄の記名・無記名にかかわらず、回答者の意に反して、第三者へ知らせることはありません。ただし、ご回答いただいた内容について個人および案件を特定できない状態に集計した情報を公開することがあります。
なお、ご回答いただいた内容については、今後の施策の検討や、審査室における指導等に利用させていただくことがあります。回答内容を担当審査官に伝えたくない場合は、次のページの「3.担当審査官へのフィードバック」欄、「担当審査官へのフィードバック不可」にチェックしてください。
・ご回答いただいた内容は、個別案件の審査にいかなる影響も及ぼしません。必要な場合には、別途正規の手続をとるようにお願いします。
・ご指摘いただいた事項について個別に回答することはできませんので、予めご了承ください。
・「担当審査官へのフィードバック不可」にチェックされなかった回答すべてを担当審査官にフィードバックすることをお約束するものでもありませんので、予めご了承ください。
【3】回答方法について
入力途中の回答を保存することはできません。また、提出済みの回答内容を確認することはできません。回答を修正したい場合は、下記の特許庁担当者までご連絡ください。

[1]Objective
This Survey aims to collect our users' views and opinions on our examination quality to use them as data for our understanding of the current examination quality, as well as for quality improvement.
[2]Handling of Information Collected in the Survey
Information collected in the Survey, whether anonymous or not, will be used only for the objective mentioned in [1] above and will be kept strictly confidential. However, please note that we might publish some answers as collective data in aggregate, in which respondents' names and cases cannot be disclosed.
Some of your answers might be shared with the examiner in charge for future quality measures, guidance, and instructions in our Examination Divisions. Please check the box in “3. Feedback to the examiner in charge” on the next page if you do not wish them to be shared.
・Please also note that your responses will not affect examinations of any individual applications and that you therefore need to go through formal procedures if you wish otherwise.
・We cannot respond to comments individually.
・We cannot guarantee that all your answers will be shared with the examiner in charge even when you do not check the box on the next page.
[3]How to Answer the Questionnaire
Your answers cannot be saved before submission. Your answers cannot be reviewed after submission. If you want to change your answers, please contact the Quality Management Office.


 

 


お問い合わせ先

特許担当:審査第一部 調整課 品質管理室  TEL:03-3581-1101(内線3121)

意匠担当:審査第一部 意匠課        TEL:  同上   (内線2904)

商標担当:審査業務部 商標課        TEL:  同上   (内線2812)

特許・意匠・商標共通:           E-mail:pa2a40@jpo.go.jp

(電話対応体制が限られていますので、メールでのお問い合わせにご協力ください。)


Contacts

Quality Management Office, Administrative Affairs Division, Japan Patent Office
TEL: +81-3-3581-1101 (ex. 3121)   E-mail: pa2a40@jpo.go.jp